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X射线检测器、X射线CT装置、X射线检测方法以及X射线检测程序
- 专利权人:
- 株式会社日立制作所
- 发明人:
- 昆野康隆
- 申请号：
- CN201780010294.8
- 公开号：
- CN108601574A
- 申请日:
- 2017.02.03
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 为了不增大处理时间、处理电路以及插补用数据等地提高对缺陷元件的输出信号的插补精度并且简单地抑制伪影,本发明具备:检测部,将包含多个检测元件的检测元件组与一个像素对应地排列多个;相加率决定部,决定检测元件的输出信号的相加率;相加部,通过根据相加率将属于检测元件组的检测元件的输出信号相加来计算投影像的每个像素的信号值;和位置信息存储部,存储表示像素与检测元件之间的位置关系的像素位置信息和表示缺陷元件的位置的缺陷元件位置信息,相加率决定部基于像素位置信息以及缺陷元件位置信息,将缺陷元件的输出信号的相加率、和与该缺陷元件处于对称位置的对角检测元件的输出信号的相加率决定为相同且比其他检测元件的相加率低的值,将其他所述检测元件的相加率决定为大致相同的值。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
