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Determination of beam parameters for asymmetrical photon beams
专利权人:
Christian Ehringfeld
发明人:
Christian Ehringfeld
申请号:
US12845509
公开号:
US08742326B2
申请日:
2010.07.28
申请国别(地区):
US
年份:
2014
代理人:
摘要:
An apparatus and a method for determining a beam parameter of an asymmetrical photon beam generated by an accelerator are provided. A beam profile of a symmetrical photon beam is measured and normalized. For the asymmetrical photon beam, a normalization of the beam profile is implemented such that the maximum of the profile corresponds to a value of the normalized symmetrical beam profile at the site of the maximum. The parameter determination takes place using a conventional beam parameter definition.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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