从在遍历轨迹时拍摄的X射线投影确定图像的方法和设备
- 专利权人:
- 西门子公司
- 发明人:
- 弗兰克·丹纳莱因,霍尔格·舍尔
- 申请号：
- CN201010283406.7
- 公开号：
- CN102028490B
- 申请日:
- 2010.09.14
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种借助运动的X射线源(2)和用于拍摄投影的探测器(5)确定对于对象(P)的衰减系数的方法和设备。按照本发明通过如下实现本发明：确定对于运动的X射线源(2)的轨迹；对于投影数据的滤波确定滤波线(10)；确定在滤波线上的要借助数学准则进行用于反投影的投影求导的位置(11)；确定在轨迹上的采样位置；利用X射线源(2)遍历轨迹并且对于每个采样点进行投影的拍摄；对于直接在滤波线上的每个位置(11)对轨迹数值地计算投影导数；并且借助数学准则从计算的投影导数中确定对于对象(P)的衰减系数以用于重建。本发明通过避免近似方法改进了对象的重建的质量。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
