X射线成像装置和X射线成像方法
- 专利权人:
- 佳能株式会社
- 发明人:
- 向出大平,福田一德,渡边壮俊,高田一广,野间敬
- 申请号：
- CN201080054070.5
- 公开号：
- CN102639059A
- 申请日:
- 2010.11.29
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- X射线成像装置和X射线成像方法可减轻散射的X射线对于获得的图像的影响。通过使用分离元件和使X射线扫描速度与检测单元的图像获取速度同步化的曝光控制单元，计算检测物体的微分相位衬度图像或相位衬度图像。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
