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DISPOSITIF ET SYSTÈME D'INSPECTION
专利权人:
京セラ株式会社;KYOCERA CORPORATION
发明人:
YAMASAKI Hirohide,山▲崎▼ 博英,KOBORI Shinichi,小堀真一,山▲崎▼ 博英
申请号:
JPJP2017/005897
公开号:
WO2017/145933A1
申请日:
2017.02.17
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
This inspection device is provided with: a housing unit that houses a specimen; a first detection unit that detects a substance generated by the specimen housed in the housing unit; a second detection unit that detects a component that is different than the substance in the environment inside the housing unit; and a control unit that, on the basis of the component detected by the second detection unit, corrects the detection result from the first detection unit regarding the substance and determines the quality of the specimen.L'invention concerne un dispositif d'inspection qui comprend : une unité de logement qui loge un échantillon ; une première unité de détection qui détecte une substance générée par l'échantillon logé dans le logement ; une seconde unité de détection qui détecte un constituant qui est différent de la substance dans l'environnement à l'intérieur de l'unité de logement ; et une unité de commande qui, sur la base du constituant détecté par la seconde unité de détection, corrige le résultat de la détection provenant de la première unité de détection concernant la substance et détermine la qualité de l'échantillon.検査装置は、被検物を収容する収容部と、収容部に収容された被検物が発生する物質を、検出する第1の検出部と、収容部内の雰囲気中における物質とは異なる成分を検出する第2の検出部と、第1の検出部による物質の検出結果を、第2の検出部が検出した成分に基づいて補正して、被検物のクオリティを判定する制御部と、を備える。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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