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particle beam scanning irradiation system
专利权人:
三菱電機株式会社
发明人:
蒲 越虎,池田 昌広,本田 泰三
申请号:
JP2014505878
公开号:
JPWO2013140547A1
申请日:
2012.03.21
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
Obtaining the planned number of irradiated particles at each irradiation spot of the particle beam based on the relative particle beam dose determined from the particle beam treatment plan and the prescribed particle beam dose, and the planned irradiation particle number and the beam current waveform of the particle beam And simulating the irradiation process of the particle beam at each irradiation spot, obtaining the number of particles irradiated to the affected area while the particle beam scans, and each irradiation using the number of particles irradiated while moving the scan Particles comprising a step of correcting the number of planned irradiation particles in a spot, a step of converting the corrected number of planned irradiation particles into a count number of a dose monitor, and a step of irradiating a particle beam based on the converted count number Line scanning irradiation method.粒子線治療計画から決められる相対粒子線照射量と処方粒子線線量をもとに粒子線の各照射スポットにおける計画照射粒子数を求めるステップと、計画照射粒子数と粒子線のビーム電流波形をもとに各照射スポットにおける粒子線の照射過程を模擬し、粒子線がスキャン移動する間に患部に照射される粒子数を求めるステップと、スキャン移動する間に照射される粒子数を用いて各照射スポットにおける計画照射粒子数を補正するステップと、補正された計画照射粒子数を線量モニタのカウント数に換算するステップと、換算されたカウント数に基づいて粒子線を照射するステップを備えている粒子線スキャニング照射方法。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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