您的位置：
首页
>
农业专利
>
详情页
高温半透明材料光谱方向表观发射率逆推测量装置及方法
- 专利权人:
- 哈尔滨工业大学
- 发明人:
- 齐宏,牛春洋,孙双成,郑献之,阮立明,姜宝成
- 申请号：
- CN201310721986.7
- 公开号：
- CN103674888B
- 申请日:
- 2013.12.24
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 杨立超
- 摘要：
- 高温半透明材料光谱方向表观发射率逆推测量装置及方法，属于高温材料热物性测量技术领域。本发明是为了解决目前半透明材料光谱方向表观发射率测量精度低、温度上限低、测量波段窄并且存在测量死角的问题。本发明利用傅里叶红外光谱仪分别对半透明材料的高温法向透射率和高温法向发射率进行测量，继而根据辐射传输逆问题求解方法计算得到半透明材料的光谱折射率和光谱吸收系数，最终由材料的光谱折射率和光谱吸收系数计算得到半透明材料高温光谱方向表观发射率。本发明提供了一种可靠的可对半透明材料高温光谱方向表观发射率进行准确测量的测量方法，可以广泛应用于航空航天、军事、能源、化工、以及大气科学等诸多领域。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
