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Sensorsystem und Verfahren zur Bestimmung einer optischen Eigenschaft einer Pflanze
专利权人:
Franke GmbH
发明人:
Daniel Groz,Günter Dittmar
申请号:
DE102010034603
公开号:
DE102010034603B4
申请日:
2010.08.13
申请国别(地区):
DE
年份:
2013
代理人:
摘要:
Sensorsystem (10) zur Bestimmung einer optischen Eigenschaft einer Pflanze (12) mittels einer Reflexionsmessung, mit einer ersten Lichtquelle (14), die Licht entlang einer ersten Strahlachse (16) ausstrahlt, und einer zweiten Lichtquelle (18), die Licht entlang einer zweiten Strahlachse (20) ausstrahlt, und mindestens einem ersten Empfänger (22), der entlang einer dritten Strahlachse (24) ausgerichtet ist, um von der Pflanze (12) reflektiertes Licht zu erfassen, dadurch gekennzeichnet, dass die erste Lichtquelle (14), die zweite Lichtquelle (18) und der mindestens eine erste Empfänger (22) derart relativ zueinander angeordnet sind, dass ein jeweils entlang der ersten Strahlachse (16) und der zweiten Strahlachse (20) verlaufender Zielzylinder (26, 26) und ein entlang der dritten Strahlachse (24) verlaufender erster Messzylinder (28) einander in einem Messraum (58) zumindest teilweise überlappen und die erste Strahlachse (16) und die zweite Strahlachse (20) jeweils einen Winkel (α, δ) mit der dritten Strahlachse (24) einschließen, und dass die erste Lichtquelle (14) Licht in...A sensor system (10) for determining an optical property of a plant (12) by means of a reflection measurement, with a first light source (14), the light along a first beam axis (16), and a second light source (18), the light along a second beam axis (20), and at least a first receiver (22) along a third beam axis (24) is aligned in order, from the plant (12) to detect the reflected light, characterized in that the first light source (14), the second light source (18) and the at least a first receiver (22) are arranged relative to one another in such a way that a in each case along the first beam axis (16) and the second beam axis (20) extending target cylinder (26, 26 ) and a along the third beam axis (24) a first measuring cylinder (28) each other at a measuring chamber (58) at least partially overlap and the first beam axis (16) and the second beam axis (20) in each case an angle (α, δ) with t
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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