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一种校正激光诱导击穿光谱中谱线自吸收效应的方法
- 专利权人:
- 山西大学
- 发明人:
- 侯佳佳,张雷,尹王保,肖连团,贾锁堂
- 申请号：
- CN201611207421.7
- 公开号：
- CN106770190A
- 申请日:
- 2016.12.23
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 程园园
- 摘要：
- 本发明属于激光光谱分析与检测方法技术领域，具体涉及一种校正激光诱导击穿光谱中谱线自吸收效应的方法。本方法主要是基于微量元素谱线所测等离子体电子密度和待分析谱线线宽来求得待分析谱线的自吸收系数，从而实现对谱线自吸收效应的校正。具体：1)选取相同测量条件下的微量元素谱线作为不受自吸收效应影响的光学薄参考线；2)通过所选参考线线宽计算对应的等离子体电子密度；3)通过电子密度和待分析谱线线宽计算待分析谱线自吸收系数并评估其自吸收程度；4)通过自吸收系数校正待分析谱线的峰值强度和积分强度。利用本方法可以便捷地校正等离子体谱线强度，提高光谱数据的准确性，进而更精确地进行物质成分定量分析。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
