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Analysis method and analysis system
专利权人:
ストラックスコープ ピーティワイ リミテッド
发明人:
ロジャー ゼバゼ,エゴ シーマン,アロイズ ムバラ,アリ ガセムザデ,エレノア ジーン マッキー,アン ボーテ
申请号:
JP2015245868
公开号:
JP6208735B2
申请日:
2015.12.17
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
A method for analyzing a sample comprising a first material and a second material of generally different densities and having a junction therebetween, the method comprising defining a region of interest in a cross sectional image of at least a portion of the sample that includes said junction, determining a density profile of the sample within the region of interest and crossing the junction, determining a representative density of said second material, and analyzing said sample using said junction used to distinguish said first and second materials.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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