位置伺服系统位置环性能测试方法及测试系统

• 收藏
• 分享

专利权人:

电子科技大学

发明人:

陈勇,周虎,刘霞,黄琦

申请号：

CN201110389616.9

公开号：

CN102495622B

申请日:

2011.11.30

申请国别(地区):

中国

年份:

2016

代理人:

李顺德

摘要：

本发明涉及位置伺服技术，特别涉及位置伺服系统中位置环性能测试方法及测试系统。本发明公开了一种位置伺服系统位置环性能指标的测试方法及测试系统，能够有效快捷地测试出位置伺服系统位置环性能指标，适合于航空、航天、高精度机床等的位置伺服系统研发中的测试和现场的测试。本发明的位置伺服系统位置环性能测试方法及系统，首先向位置伺服系统输入时域测试信号或频域测试信号，然后采集位置伺服系统位置环输出的响应信号，通过对响应信号的分析和计算，可以得到反映其性能的时域性能指标和频域性能指标，可以是具体的参数指标和/或波形曲线。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/