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使用了分布式X射线源的物品检查装置
- 专利权人:
- 同方威视技术股份有限公司;清华大学;同方威视技术股份有限公司；清华大学
- 发明人:
- 唐华平,李元景,赵自然,刘耀红,秦占峰,张金宇,唐虎
- 申请号：
- CN201220745388.4
- 公开号：
- CN203341743U
- 申请日:
- 2012.12.31
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 摘要：
- 本实用新型涉及使用了分布式X射线源的物品检查装置，具有：机架；物品通道；物品传送装置；分布式X射线源，在每个工作周期内能够以不同位置依次产生X射线；探测器阵列，用于接收来自分布式X射线源的X射线并输出表征X射线强弱的信号；电子学系统，接收来自探测器的信号，将该信号转换为数字信号，并与对应的探测器位置编号形成数据包，输出将探测器阵列的多个探测器信号和位置编号形成的数据包序列；图像处理系统，接收来自电子学系统的输出，对探测器位置编号和对应的表征X射线强弱的信号进行处理，构建形成受检查物品的图像；射线源电源，用于对分布式X射线源供电；控制系统，用于对各分部件进行逻辑控制，使各分系统协调工作。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
