您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

旋光計測方法及び旋光計測装置
专利权人:
SEIKO EPSON CORP
发明人:
IKEDA HIROMI,池田 陽,NISHIDA KAZUHIRO,西田 和弘
申请号:
JP2014017020
公开号:
JP2015143650A
申请日:
2014.01.31
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress that optical rotation is countervailed by reflection of reflected light in a same direction as an incidence direction of measurement light and accurately measure the optical rotation.SOLUTION: An optical rotation measuring method includes: incident of measurement light of predetermined polarized light on an analyte at a non-right-angled incidence direction discriminating an optical rotation reflection component of the predetermined polarized light among the reflected lights from a different direction from the incidence direction of the analyte and measuring optical rotation on the basis of the discrimination result.COPYRIGHT: (C)2015,JPO&INPIT【課題】計測光の入射方向と同一の方向に反射光が反射することで旋光が相殺される事態を抑制すること。また、精度良く旋光を計測すること。【解決手段】被検体に対して非直角の入射方向で所定偏光の計測光を入射することと、前記被検体の前記入射方向とは異なる方向からの反射光のうちの前記所定偏光の旋光反映成分を判別することと、前記判別の結果に基づいて旋光を計測することと、を含む旋光計測方法を構成する。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充