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Untersuchungsverfahren eines Untersuchungsobjekts mit einer Bildauswahl zur Befundungs-Dokumentation
专利权人:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
发明人:
ERTEL, DIRK,Dirk Ertel
申请号:
DE102011080768
公开号:
DE102011080768A1
申请日:
2011.08.10
申请国别(地区):
DE
年份:
2013
代理人:
摘要:
Die Erfindung betrifft ein Untersuchungsverfahren eines Untersuchungsobjekts (6, 12) mit einer Auswahl von repräsentativen Bildern zur Dokumentation eines Befundes aus n-dimensionalen Bilddaten wenigstens einer Bildsequenz (13, 16) in wenigstens einer Untersuchungsphase mit folgenden Schritten:S1) Erfassung der n-dimensionalen Bilddaten der wenigstens einen Bildsequenz (13, 16) des Untersuchungsobjekts (6, 12),S2) Bestimmung für sämtliche Bilder der wenigstens einen Bildsequenz (13, 16) von lokalen Maßen für den Informationsgehalt,S3) Bestimmung für wenigstens eine Untersuchungsphase von repräsentativen Bildern der wenigstens einen Bildsequenz (13, 16) mit dem höchsten lokalen Maß für den Informationsgehalt undS4) Bereitstellung der gemäß Schritt S3) bestimmten repräsentativen Bilder der Bildsequenz zur Dokumentation des Befundes.The testing method involves detecting (S1) the n-dimensional image data of an image sequence of the testing object, and providing (S2) local dimensions for the information content for all images of the image sequence. The testing phase of the representative images of the image sequence is determined (S3) with the highest local measure of the information content. The representative images of the image sequence for documentation of the finding is provided (S4). The local entropy is applied over all individual images of the image sequence.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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