Die Erfindung betrifft ein Verfahren (10) zur Streustrahlenkorrektur von mit einem Computertomographiesystem (31) aufgenommenen Projektionsmessdaten aufweisend die Schritte der Aufnahme (11), des Lokalisierens (12), des Bestimmens (13) und des Korrigierens (14). Im Schritt der Aufnahme (11) werden Projektionsmessdaten aus mehreren Projektionswinkeln (1) aufgenommen und die Projektionsmessdaten werden in einem Sinogramm erfasst. Im Schritt des Lokalisierens (12) werden Merkmale in den Projektionsmessdaten des Sinogramms in einem vorbestimmten Winkelbereich (3) um einen Projektionswinkel (1) lokalisiert. Im Schritt des Bestimmens (13) wird eine Streuverteilung für den Projektionswinkel (1) aus den lokalisierten Merkmalen mittels eines trainierten Bestimmungsalgorithmus bestimmt. Im Schritt des Korrigierens (14) werden die Projektionsmessdaten des Projektionswinkels (1) auf Basis der Streuverteilung korrigiert.The invention relates to a method (10) for scatter correction of projection measured data recorded by a computer tomography system (31), comprising the steps of recording (11), locating (12), determining (13) and correcting (14). In the recording step (11), projection measurement data are acquired from a plurality of projection angles (1), and the projection measurement data are acquired in a sinogram. In the localization step (12), features in the projection measurement data of the sinogram are located at a predetermined angle range (3) by a projection angle (1). In the step of determining (13), a scattering distribution for the projection angle (1) from the localized features is determined by means of a trained determination algorithm. In the step of correcting (14), the projection measurement data of the projection angle (1) are corrected based on the scattering distribution.
