André Müller,Daniel Kolster,Christian Beder,Thorsten Tritschler
申请号：
DE102017110779
公开号：
DE102017110779A1
申请日:
2017.05.17
申请国别(地区):
DE
年份:
2018
代理人:
摘要：
Die Erfindung betrifft ein Operationsmikroskop (10) für das Erzeugen eines Beobachtungsbildes eines Objektbereichs (12) mit einem Beobachtungsstrahlengang (24, 26), der ein Hauptobjektivsystem (16) durchsetzt. Erfindungsgemäß enthält das Operationsmikroskop (10) eine Strahlengang-Schalteinrichtung (72, 76) für das Auskoppeln von Bildinformation, die in einem ersten Schaltzustand in dem Beobachtungsstrahlengang (24, 26) geführtes Licht auf einen ersten Strahlengang (80, 84) mit Licht der Intensität IT1 und auf einen zweiten Strahlengang (82, 86) mit Licht der Intensität IT2 aufteilt, wobei der erste Strahlengang (80, 84) zu einem Okulareinblick (32, 34) und der zweite Strahlengang (82, 86) zu einer Bilderfassungseinrichtung (40, 46) geführt ist, und die in einem zweiten Schaltzustand das in dem Beobachtungsstrahlengang (24, 26) geführte Licht mit der Intensität IU in den zweiten Strahlengang (82, 86) umlenkt.The invention relates to a surgical microscope (10) for generating an observation image of an object region (12) with an observation beam path (24, 26) passing through a main objective system (16). According to the invention, the surgical microscope (10) contains a beam path switching device (72, 76) for decoupling image information, which in a first switching state in the observation beam path (24, 26) guided light on a first beam path (80, 84) with light of intensity IT1 and onto a second beam path (82, 86) with light intensity IT2, wherein the first beam path (80, 84) to an eyepiece view (32, 34) and the second beam path (82, 86) to an image capture device (40, 46) is guided, and in a second switching state in the observation beam path (24, 26) guided light with the intensity IU in the second beam path (82, 86) deflects.
