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X線位相コントラスト像の撮像に用いられる位相格子、該位相格子を用いた撮像装置、X線コンピューター断層撮影システム
专利权人:
キヤノン株式会社
发明人:
中村 高士,今田 彩
申请号:
JP2009234850
公开号:
JP5459659B2
申请日:
2009.10.09
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a phase grating of the same size as that which is used for taking X-ray phase contrast images by using a single wavelength by which X-ray phase contrast images can be obtained by using X rays of two wavelengths.SOLUTION: The phase grating is used when X-ray phase contrast images are taken by irradiation of X rays. The phase grating is provided with periodic structures in several directions in the same plane. The periodic structures have periods different from each other. Several contrast periodic images are formed in the same plane by the periodic structures by irradiation with the X rays.COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT【課題】2波長のX線を用いてX線位相コントラスト像を撮像する際に、単波長を用いた場合と同一サイズの位相格子によりX線位相コントラスト像を取得することが可能となる位相格子を提供する。【解決手段】X線を照射してX線位相コントラスト像を撮像する際に用いられる位相格子であって、前記位相格子が、同一面内の複数の方向に周期構造を備え、該周期構造は互いに異なる周期を有し、前記X線の照射により前記周期構造によって複数の明暗周期像が同一平面に形成される構成を有する。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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