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一种测量土壤剖面参数的装置
专利权人:
中国农业大学
发明人:
孙宇瑞,马道坤,孟繁佳,林剑辉
申请号:
CN200810112304.1
公开号:
CN101285818B
申请日:
2008.05.22
申请国别(地区):
中国
年份:
2011
代理人:
练光东
摘要:
本发明涉及一种测量土壤剖面参数的装置,该装置包括底座和底座上的主机,主机包括:外壳;与外壳内壁相连的上、下支架;电机;由电机驱动的接在上、下支架之间的滚珠丝杠,用于将电机的旋转运动转化为滑块的轴向直线运动;设置在滚珠丝杠上的滑块;固定在上、下支架之间的两根光轴,分别穿过滑块的两端的通孔,与滚珠丝杠平行起导轨的作用;安装在滑块上的参数测量传感器,用于采集土壤剖面参数信号;与参数测量传感器连接的圆锥杆及锥头;测量滑块行进深度的深度测量装置;数据采集与控制装置,用于接收土壤剖面参数信号,并根据深度滑块行进深度,控制所述电机旋转或停止。本发明运行精度高,可以实现一个或多个参数的连续同步实时测量。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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