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光子計数型画像検出器、X線診断装置、及びX線コンピュータ断層装置
专利权人:
TOSHIBA CORP
发明人:
NAGAI SEIICHIRO,永井 清一郎
申请号:
JP2011151158
公开号:
JP2013019698A
申请日:
2011.07.07
申请国别(地区):
JP
年份:
2013
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray image of high resolution by reducing a spread of a signal in a photon count type image detector.SOLUTION: A photon count type image detector 26 includes a semiconductor cell S which detects an X-ray photon a charge amplifier 51 which generates electric pulses on the basis of electric charges collected in response to the detected X-ray photons comparators 531-53n which discriminate electric pulses on the basis of crest values of the electric pulses a threshold logic circuit 55 which performs control not to count electric pulses corresponding to energy of characteristic X rays generated by the semiconductor cell S among the discriminated electric pulses and counters 561-56m which count the discriminated electric pulses under the control of the threshold logic circuit 55.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】光子計数型画像検出器において、検出器内部での信号の広がりを低減して、解像度の高いX線画像を提供すること。【解決手段】光子計数型画像検出器26は、X線光子を検出する半導体セルSと、検出されたX線光子に応答して集電される電荷を基に、電気パルスを生成するチャージアンプ51と、電気パルスの波高値を基に電気パルスを弁別する比較器531~53nと、弁別された電気パルスのうち、半導体セルSで発生する特性X線のエネルギーに対応する電気パルスを非計数とするように制御する閾値論理回路55と、閾値論理回路55による制御に従って、弁別された電気パルスを計数するカウンタ561~56mと、を備えた。【選択図】 図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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