微藻培养基光学常数及微藻光谱衰减系数的联合测量方法
- 专利权人:
- 哈尔滨工业大学
- 发明人:
- 赵军明,李兴灿,刘林华
- 申请号：
- CN201510096252.3
- 公开号：
- CN104614324B
- 申请日:
- 2015.03.04
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 杨立超
- 摘要：
- 一种微藻培养基光学常数及微藻光谱衰减系数的联合测量方法，本发明涉及培养基光学常数及光谱衰减系数的联合测量方法。本发明是要解决现有方法测量时不能准确消除玻璃和界面产生的多次反射的影响以及忽略了比色皿玻璃的影响，产生较大偏差的问题而提出的一种微藻培养基光学常数及微藻光谱衰减系数的联合测量方法。该方法是通过步骤一、建立了三层介质光线传输模型；步骤二、选择获得有效透射数据的微藻和培养基比色皿容器；步骤三、计算出培养基的光学常数；步骤四、得到微藻的衰减系数βp等步骤实现的。本发明应用于培养基光学常数及光谱衰减系数的联合测量方法。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
