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波形解析装置、波形探索方法、及びプログラム
专利权人:
富士通株式会社
发明人:
田宮 豊,岩下 洋哲,樋口 博之
申请号:
JP2011060790
公开号:
JP5589918B2
申请日:
2011.03.18
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pattern matching having high processing efficiency.SOLUTION: A converter 12 generates a characteristics function which is a logic function that makes a set of a time and a value at the time to be a variable based on a data set row having a set of the time and the value obtained by sampling a signal waveform of an input signal, and converts it into a second function which is an expression in a binary decision diagram. A constrained condition acquisition unit 14 obtains a constrained condition to relationship between time information predetermined by a characteristic point and a value corresponding to the time information in the signal waveform about each of the plurality of the characteristic points set on a reference waveform. This constrained condition is obtained based on the value of the reference waveform in the characteristic point and a predetermined tolerance which is given to the value of the reference waveform. A searching unit 15 obtains a range of a time which satisfies the constrained conditions of all of the plurality of the characteristic points and outputs it by applying the constrained condition of each of the plurality of the characteristic points to the converted second function.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】処理効率の高いパターンマッチングを提供する。【解決手段】変換部12は、入力信号の信号波形をサンプリングして得られる時刻と値との組を有するデータ組列に基づいて、時刻と当該時刻での値との組を変数とする論理関数である特性関数を生成して二分決定図での表現である第二関数に変換する。制約条件獲得部14は、参照波形上に設定された複数の特徴点の各々について、当該特徴点によって特定される時間情報と上記の信号波形において当該時間情報に対応する値との間の関係に対する制約条件を獲得する。この制約条件は、当該特徴点における上記の参照波形の値と当該参照波形の値に対して与えられる所定の許容誤差とに基づき獲得される。探索部15は、変換された第二関数に対して前述の複数の特徴点の各々の制約条件を適用して当該複数の特徴点全ての制約条件を充足する時刻の範囲を求めて出力する。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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