The present invention pertains to a system and method for monitoring an analyte. Extreme point information, which is information pertaining to an arrival time at which a time series of measurement signals from a measuring means (12) reaches an extreme point, is calculated for respective subjects. At least one time slot in a day is determined to be a time slot of interest (100, 102, 104) close to the arrival time on the basis of the acquired extreme-point information. A sampling interval (T) at the time slots of interest (100, 102, 104) thus determined is set successively.La présente invention concerne un système et un procédé pour la surveillance d'un analyte. Les informations de point extrême qui sont des informations concernant un temps d'arrivée auquel une série temporelle de signaux de mesure provenant d'un moyen de mesure (12) atteint un point extrême, sont calculées pour des sujets respectifs. Au moins un créneau temporel dans une journée est déterminé comme étant un créneau temporel d'intérêt (100, 102, 104) proche du temps d'arrivée sur la base des informations de point extrême acquises. Un intervalle (T) d'échantillonnage aux créneaux temporels d'intérêt (100, 102, 104) ainsi déterminé est réglé de façon successive.本発明は、アナライトのモニタシステム及びモニタ方法に関する。計測手段（１２）により計測信号の時系列が極点に達する到達時刻に関する情報である極点情報を被検体毎に算出する。取得された極点情報に基づいて、１日のうち少なくとも１つの時間帯を、到達時間に近い関心時間帯（１００、１０２、１０４）として決定する。決定された関心時間帯（１００、１０２、１０４）でのサンプリング間隔（Ｔ）を遂次設定する。
