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阻抗测量探针和活检装置
专利权人:
巴德股份有限公司
发明人:
J·P·阿狄森,S·D·科尔迈尔,A·辛格
申请号:
CN201780097727.8
公开号:
CN111491568A
申请日:
2017.12.15
申请国别(地区):
CN
年份:
2020
代理人:
摘要:
本申请涉及一种用于在活检装置中使用的阻抗测量探针,包括金属细长部件,该金属细长部件有细长表面、近端部分和远端部分。细长表面有凹入纵向槽道,该纵向槽道有一定深度,从近端部分纵向延伸至远端部分中。具有连接端和感测端的导线电极位于凹入纵向槽道中并沿该凹入纵向槽道延伸。连接端从金属细长部件的近端部分伸出,感测端位于金属细长部件的远端部分处。绝缘材料布置在金属细长部件的凹入纵向槽道中并环绕导线电极,以使得导线电极电绝缘,且导线电极的感测端暴露。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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