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Method for estimating scattered ray intensity distribution in X-ray CT and X-ray CT apparatus
专利权人:
東芝メディカルシステムズ株式会社;株式会社東芝
发明人:
岡本 陽介,秋野 成臣
申请号:
JP2007258987
公开号:
JP5052281B2
申请日:
2007.10.02
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
A method for estimating a scattered ray intensity distribution in an X-ray CT apparatus, the method includes: irradiating a subject with X-rays; and configuring a cross-sectional image of the subject by detecting the X-rays passing through the subject, on the basis of a path length of a scattered ray passing through the subject, an X-ray absorption coefficient of the subject and an X-ray scattering probability of the subject, intensity of the scattered ray being calculated.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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