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一种测量125I粒子源置入支架或导管对剂量分布影响的方法
专利权人:
黑龙江省科学院技术物理研究所
发明人:
张慧,周巍,关世荣,梅雪松,王振超,庞杨,韩业辉
申请号:
CN201310236410.1
公开号:
CN103341239A
申请日:
2013.06.14
申请国别(地区):
CN
年份:
2013
代理人:
摘要:
一种测量125I粒子源置入支架或导管对剂量分布影响的方法,涉及一种测量粒子源置入支架或导管对剂量分布影响的方法。本发明提供一种测量125I粒子源置入支架或导管对剂量分布影响的方法。方法:一、用标准源对热释光剂量探测器进行能量刻度和剂量标定;二、制肿瘤等效模型;三、在模型的上表面的圆心处加工一圆柱体孔洞;四、在以模型的上表面的中心为圆心的圆上对称加工孔;五、将标定后的探测器放入步骤四加工的孔中,将125I粒子源置于导管或支架内,再将导管或支架置于步骤三加工的圆柱体孔洞中,照射后取出125I粒籽源,分别探测器的实测值x,然后按以下公式计算吸收剂量。用于测量125I粒子源置入支架或导管对剂量分布的影响。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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