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准直器对准偏差确定方法及计算机化断层成像系统
专利权人:
GE医疗系统环球技术有限公司
发明人:
王颖,李硕
申请号:
CN201310532571.5
公开号:
CN104586415B
申请日:
2013.31.10
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
本发明提供了一种准直器对准偏差确定方法及计算机化断层成像系统。所述方法包括:从X射线产生器的初始位置开始,沿第一方向移动X射线产生器,以改变从X射线产生器发射的X射线相对于准直器的偏斜角度;对应于不同的偏斜角度,通过X射线探测器检测每个通道的增益值;从检测的每个通道的与不同的偏斜角度对应的增益值中确定该通道的代表偏斜角度;根据确定的代表偏斜角度来计算每一行中的准直器的在与该行中的各个通道对应的位置处的对准偏差。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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