A method of determining a reference calibration setting for an adaptive optics system (1) comprising a detecting device (8) for detecting light from an object (5)； and at least one controllable wavefront modifying device (9) arranged such that light from the object (5) passes via the wavefront modifying device (9) to the detecting device (8). The method comprises the steps of: arranging (100) a light-source between the object (5) and the wavefront modifying device (9) to provide a reference light beam to the detecting device (8) via the wavefront modifying device； for each of a plurality of orthogonal wavefront modes of the wavefront modifying device: controlling (101) the wavefront modifying device to vary a magnitude of the orthogonal wavefront mode over a predetermined number of magnitude settings； acquiring (102) a series of readings of the detecting device, each reading corresponding to one of the magnitude settings； determining (103) a quality metric value indicative of an information content of the reading for each reading in the series of readings, resulting in a series of quality metric values； and determining (106) a reference parameter set for the wavefront modifying device corresponding to an optimum quality metric value based on the series of quality metric values.La présente invention concerne un procédé de détermination d'une définition d'étalonnage de référence pour un système d'optique adaptative (1) comprenant un dispositif de détection (8) pour détecter la lumière d'un objet (5)； et au moins un dispositif de modification de front d'onde réglable (9) configuré de manière à ce que la lumière de l'objet (5) passe via le dispositif de modification de front d'onde (9) au dispositif de détection (8). Le procédé comprend les étapes consistant à : disposer (100) une source de lumière entre l'objet(5) et le dispositif de modification de front d'onde (9) pour fournir un faisceau lumineux de référence au dispositif de détection (8) via le dispositif de modif
