The image processing apparatus (310), the inspection image acquiring unit that acquires an inspection image of a test object (100), from the acquired inspection image by the inspection image acquiring unit (100), predetermined for each pixel is calculated shift-invariant feature amount calculation unit for calculating a basis representation has been shifted invariant feature amount (105), a plurality of pixels each of which includes a plurality of normal images is an image not including the lesion portion by basis vectors , in the case of clustering the plurality of shift-invariant feature amounts basis representation in the predetermined basis vectors, the relative positional relationship in a plurality of normal images of class, of each shift invariant belongs classes included in the inspection image a selection unit which fit between the relative positional relationship in the inspection image to select pixels of the test image becomes equal to or less than a predetermined threshold value (106), an output unit for outputting a selection result by the selection unit (106) and (200) equipped with.画像処理装置(310)は、検査対象の画像である検査画像を取得する検査画像取得部(100)と、検査画像取得部(100)により取得された検査画像から、画素ごとに所定の基底ベクトルで基底表現されたシフト不変特徴量を算出するシフト不変特徴量算出部(105)と、各々が病変部を含まない画像である複数の正常画像に含まれる複数の画素から算出される、上記所定の基底ベクトルで基底表現された複数のシフト不変特徴量をクラスタリングした場合の、クラスの複数の正常画像における相対的な位置関係と、検査画像に含まれる各シフト不変量が属するクラスの検査画像における相対的な位置関係との適合度が所定閾値以下となる検査画像上の画素を選択する選択部(106)と、選択部(106)による選択結果を出力する出力部(200)とを備える。
