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X線CT装置の校正及び評価用の標準ゲージ、並びに該X線CT装置の校正及び評価用の標準ゲージを用いたX線CT装置の校正方法及び評価方法
专利权人:
NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL & TECHNOLOGY
发明人:
FUJIMOTO HIROYUKI,藤本 弘之,OSAWA TAKAMITSU,大澤 尊光
申请号:
JP2011054883
公开号:
JP2012189517A
申请日:
2011.03.13
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a standard gauge for calibration and evaluation of an X-ray CT apparatus which can be easily manufactured, accurately calibrate shape dimensions including the internal shape of a measurement object in a projected image to be obtained from the X-ray CT apparatus, and effectively evaluate shape measurement performance including the internal shape in the X-ray CT apparatus, and a calibration method and an evaluation method of the X-ray CT apparatus using the standard gauge for X-ray CT.SOLUTION: A standard gauge 10 for calibration and evaluation of an X-ray CT apparatus has: a beryllium mold 11 and an exterior body 12 which includes the beryllium mold 11 and is shown by contrast different from that of the beryllium mold 11 in a projected image to be obtained from the X-ray CT apparatus.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】簡単に製造することができ、X線CT装置から得られる投影イメージにおいて、測定対象物の内部形状を含む形状寸法を精度良く校正することができ、かつ、該X線CT装置における内部形状を含む形状測定性能を効果的に評価することができるX線CT装置の校正及び評価用の標準ゲージ、並びに該X線CT用の標準ゲージを用いたX線CT装置の校正方法及び評価方法を提供することを課題とする。【解決手段】本発明のX線CT装置の校正及び評価用の標準ゲージ10は、ベリリウム成型体11と、該ベリリウム成型体11を内包し、X線CT装置から得られる投影イメージにおいてベリリウム成型体11と異なるコントラストで示される外装体12とを有することを特徴とする。【選択図】図3
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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