准直器及具有该准直器的探测装置和扫描设备
- 专利权人:
- 武汉知微科技有限公司
- 发明人:
- 李延召,李炳轩
- 申请号：
- CN201420759277.8
- 公开号：
- CN204318778U
- 申请日:
- 2014.12.01
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 摘要：
- 本实用新型提供一种准直器，以及具有所述准直器的探测装置和扫描设备，所述准直器包括堆叠设置的第一准直层和第二准直层，所述第一准直层和所述第二准直层均设有若干准直孔，其中所述第一准直层上的若干所述准直孔具有不尽相同的孔深，所述第二准直层上的若干所述准直孔也可具有不尽相同的孔深，且所述第一准直层和所述第二准直层均具有一对接表面，若干所述准直孔或若干所述准直孔的延伸方向贯穿对应的所述对接表面，二所述对接表面相向设置且能够相互吻合。通过所述第一准直层和所述第二准直层的相对运动可改变所述第一准直层和所述第二准直层上的若干所述准直孔堆叠后的有效孔深，以获得不同的分辨率和灵敏度。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
