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MODÉLISATION D'UN EFFET D'EMPILEMENT DESTINÉE À UNE UTILISATION DANS L'IMAGERIE SPECTRALE
专利权人:
MARS BIOIMAGING LIMITED
发明人:
ATHARIFARD, Ali,BUTLER, Philip Howard,BUTLER, Anthony Philip Howard
申请号:
NZNZ2019/050060
公开号:
WO2019/231338A1
申请日:
2019.05.30
申请国别(地区):
NZ
年份:
2019
代理人:
摘要:
Disclosed is a method for modelling a distorted energy spectrum in a multi-energy x-ray CT imaging system using probability distribution functions, the method including taking open beam measurements across a range of fluxes, estimating true interaction rates from said fluxes, calculating the probabilities of photons being counted, pileup order, and counts recorded to produce a model of the distorted energy spectrum. Also described are computer implemented methods and systems for modelling distortions and optimizing material images produced from multi-energy x-ray CT scanning systems using the modelling techniques.L'invention concerne une méthode de modélisation d'un spectre d'énergie déformé dans un système d'imagerie CT à rayons X multi-énergies utilisant des fonctions de distribution de probabilité, la méthode consistant à prendre des mesures de faisceau ouvertes sur une plage de flux, à estimer des taux d'interaction réels à partir desdits flux, à effectuer un calcul des probabilités de photons comptés, de l'ordre d'empilement et de comptages enregistrés afin de produire un modèle du spectre d'énergie déformé. L'invention concerne également des méthodes et des systèmes mis en œuvre par ordinateur permettant de modéliser des déformations et d'optimiser des images matérielles produites à partir de systèmes de balayage CT à rayons X multi-énergies utilisant les techniques de modélisation.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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