An apparatus (10) and method for measuring plant growth conditions in a substrate are provided. A plurality of probes having a linear first array (16) and a second array (18) are used, and a plurality of measured values of the characteristics of the substrate can be obtained. By using a plurality of measured values at different heights in the substrate and combining these measured values, the plant growth conditions can be accurately derived. [Selection] Figure 1基材内の植物生育条件を測定するための装置（１０）及び方法が提供される。直線状の第１配列（１６）及び第２配列（１８）をなす複数のプローブが用いられ、基材の特性の複数の測定値を得ることが可能となる。基材内の異なる高さにおける複数の測定値を用い、これらの複数の測定値を組合せることにより、植物生育条件を正確に導出することが可能となる。【選択図】図１
