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检测痕量农药残留物的分子印迹化学发光传感器及其应用
- 专利权人:
- 济南大学
- 发明人:
- 葛慎光,于京华,黄加栋,朱元娜,颜梅,张丛丛,万夫伟,葛磊,赵佩妮,高伟强,吴丹,张瑾,解文秀
- 申请号：
- CN200910018139.8
- 公开号：
- CN101644680A
- 申请日:
- 2009.09.01
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2010
- 代理人:
- 李桂存
- 摘要：
- 本发明涉及农药残留物检测技术领域，更具体地说是一种检测痕量农药残留物的分子印迹化学发光传感器，本发明还涉及采用所述的分子印迹技术化学发光传感器测农产品样本中痕量农药残留的方法。(1)选择功能单体；(2)按摩尔比为0.1～1∶1～10∶5～25∶20～60∶0.05～0.15∶20～50的比例将残留农药的模板分子、功能单体、交联剂、致孔剂、引发剂和硅源混合均匀制成MIPs溶胶；(3)制备量子点材料溶液；(4)利用层层自组装表面修饰技术，将MIPs溶胶和量子点材料修饰到微孔板表面上，制作化学发光传感器。本发明的有益效果：对农药残留物的检测具有高特异性、高灵敏度、快速检测，成本低，重复性好，便于现场检测。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
