铅浓度对凤梨叶片影响的测定方法
- 专利权人:
- 天津滨海国际花卉科技园区股份有限公司
- 发明人:
- 杨铁顺,赵亮,柯盛发,冯常新,刘青,吴建平,闵宇
- 申请号：
- CN201210491703.X
- 公开号：
- CN102986426A
- 申请日:
- 2012.11.27
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 孙春玲
- 摘要：
- 本发明提供一种铅浓度对凤梨叶片影响的测定方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)、用蛭石和草炭以1∶1的重量比配制栽培基质；(2)、将栽培基质放入事先已经标记好的方盆中称量，Pb(NO3)2以水溶液的形式均匀拌入土壤中，得到培养基质；(3)、将凤梨植株种植在混有不同浓度的Pb2+培养基质和不含Pb2+的培养基质上，每个处理重复三次。本发明提供了一种合理的测定方法，可以简单方便的测定铅浓度对凤梨叶片的影响，从而找到凤梨的最大铅胁迫浓度，为进一步进行科学研究提供有力的数据支撑。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
