Spectrum measurement apparatus method for correcting light source temperature change of spectrum apparatus and method for estimating analyte concentration
장형석,심재욱,문현석,엄근선,이준호,정명훈,JANG, HYEONG SEOK,SHIM, JAE WOOK,MOON, HYUN SEOK,EOM, KUN SUN,LEE, JUN HO,JUNG, MYOUNG HOON,JANG, HYEONG SEOKKR,SHIM, JAE WOOKKR,MOON, HYUN SEOKKR,EOM, KUN SUNKR,LEE, JUN HOKR,JUNG, MYOUNG HOONKR
申请号：
KR1020180143687
公开号：
KR1020200058948A
申请日:
2018.11.20
申请国别(地区):
KR
年份:
2020
代理人:
摘要：
The spectrum measuring apparatus according to an aspect includes a light source array that irradiates light to a subject, an optical detector that receives light signals reflected, scattered, or transmitted from the subject, and the light source array and the light detector, A plurality of temperature correction spectra and an analysis spectrum according to a change in temperature of the light source array are measured, and the measured plurality of temperature correction spectra are analyzed to obtain a light source temperature drift vector, and the obtained light source temperature drift vector is used. It may include a processor for removing the influence of the temperature change of the light source array in the measured spectrum for analysis.일 양상에 따른 스펙트럼 측정 장치는, 피검체에 광을 조사하는 광원 어레이와, 상기 피검체로부터 반사, 산란 또는 투과된 광 신호를 수신하는 광 검출기와, 상기 광원 어레이과 상기 광 검출기를 이용하여, 상기 광원 어레이의 온도 변화에 따른 복수의 온도 보정용 스펙트럼과, 분석용 스펙트럼을 측정하고, 상기 측정된 복수의 온도 보정용 스펙트럼을 분석하여 광원 온도 드리프트 벡터를 획득하고, 상기 획득된 광원 온도 드리프트 벡터를 이용하여 상기 측정된 분석용 스펙트럼에서 상기 광원 어레이의 온도 변화에 따른 영향을 제거하는 프로세서를 포함할 수 있다.
