一种缺陷数据分析方法及利用其缩减软件测试项目的方法
- 专利权人:
- 中国人民解放军装甲兵工程学院
- 发明人:
- 万琳,王钦钊,范秋灵,李小龙,张威
- 申请号：
- CN201410589991.1
- 公开号：
- CN104281525B
- 申请日:
- 2014.10.28
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 黄云铎
- 摘要：
- 本发明提供了一种缺陷数据分析方法及利用其缩减软件测试项目的方法。本发明的缺陷数据分析方法包括缺陷数据向量空间模型构建、缺陷数据相似度计算、缺陷数据离散化编码、数据矩阵简化、染色体集合获取及负关联关系提取等步骤。该方法解决了现有负关联关系分析方法不成熟、效率低、可信度不高的难题，不需要频繁地对数据库的访问，只需要一次对数据库的访问即可完成整个分析过程。基于该分析方法，本发明还提供了缩减软件测试项目的方法，通过对负关联关系的分析，能够有效帮助测试人员筛选出与缺陷无关的测试项目，进而提高软件测试的效率。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
