放射线断层摄影装置、被照射射线量计算方法
- 专利权人:
- GE医疗系统环球技术有限公司
- 发明人:
- 石原阳太郎
- 申请号：
- CN201210497403.2
- 公开号：
- CN103142243B
- 申请日:
- 2012.11.29
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及放射线断层摄影装置、被照射射线量计算方法以及程序。其显示与摄影对象的表面或其附近对应的被照射射线量。例如，基于在对CTDI测定用标准模型（50）进行扫描时在其表面的附近位置处使用X传感器（51）测定的放射线射线量来计算该被照射射线量。测定放射线射线量的位置，例如是为使显示的被照射射线量为与表面对应的被照射射线量中最大的被照射射线量，而设定为不受到托架（12）导致的X射线（81）的减弱的影响的、模型（50）的正上方侧的表面附近位置（B）。从而提供能进行摄影对象的更正确的被照射评价的信息。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
