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PROCÉDÉ D'ESTIMATION D'INDICE IRM, ET DISPOSITIF BIOMÉTRIQUE
专利权人:
HAMAMATSU PHOTONICS K.K.;KURUME UNIVERSITY;学校法人久留米大学;浜松ホトニクス株式会社
发明人:
IWATA Osuke,岩田 欧介,IWATA Sachiko,岩田 幸子,KURATA Tsuyoshi,倉田 毅,YAMAKI Etsuko,矢巻 悦子,岩田 欧介,岩田 幸子,倉田 毅,矢巻 悦子
申请号:
JPJP2015/051123
公开号:
WO2015/108158A1
申请日:
2015.01.16
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
In this MRI index estimation method, an MRI index (ADC, FA, etc.) is estimated on the basis of the scattering coefficient μs' at a measurement site B, or on the basis of a parameter correlated with the scattering coefficient μs'. The scattering coefficient μs' is calculated with a near-infrared spectroscopic measurement method based on the result of detecting near-infrared light which enters a measurement site B and propagates through the inside of the measurement site B. With this method, an MRI index of a measurement site can be more easily ascertained than with MRI.La présente invention concerne un procédé d'estimation d'indice IRM, dans lequel un indice IRM (ADC, FA, etc.) est estimé sur la base du coefficient de diffusion µs' à un site de mesure B, ou sur la base d'un paramètre corrélé au coefficient de diffusion µs'. Le coefficient de diffusion µs' est calculé avec un procédé de mesure de spectrométrie d'infrarouge proche basé sur le résultat de détection de lumière infrarouge proche qui pénètre dans un site de mesure B et se propage à travers l'intérieur du site de mesure B. Avec ce procédé, un indice IRM d'un site de mesure peut être plus aisément déterminé qu'avec l'IRM.この推定方法では、被測定部位Bに入射されて被測定部位Bの内部を伝搬した近赤外光の検出結果に基づく近赤外分光計測法によって求められる、被測定部位Bの散乱係数μs'若しくは散乱係数μs'と相関を有するパラメータに基づいて、MRI指標(ADC、FAなど)を推定する。この方法では、MRIよりも簡易に、被測定部位のMRI指標を知ることができる。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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