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Component measuring apparatus, method and program
专利权人:
テルモ株式会社
发明人:
落合 庄司,森内 健行,滝浪 雅夫
申请号:
JP2016507417
公开号:
JPWO2015137074A1
申请日:
2015.02.19
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
The component measuring device (10) determines a function form indicating the wavelength characteristic of the scattering-induced change amount (S (λ)). Based on the first relational expression including the absorption-induced change amount (H (λ1)) and the group of second relational expressions not including the absorption-induced change amounts (H (λ2a), H (λ2b), H (λ2c)). Then, one or more coefficients (p, q) as unknowns are calculated. Then, at least the influence of light scattering is eliminated by correcting the absorbance measured at an arbitrary wavelength (λ) using a function obtained by applying one or more coefficients (p, q) to the above function form. To do.成分測定装置(10)は、散乱起因変化量(S(λ))の波長特性を示す関数形を決定する。そして、吸収起因変化量(H(λ1))を含む第1関係式及び吸収起因変化量(H(λ2a)、H(λ2b)、H(λ2c))を含まない一群の第2関係式に基づいて、未知数としての1つ以上の係数(p,q)を算出する。そして、1つ以上の係数(p,q)を上記の関数形に適用した関数を用いて、任意の波長(λ)にて測定された吸光度を補正することで、少なくとも光散乱の影響を除去する。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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