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一种压疮测量尺
专利权人:
刘秀冬
发明人:
刘秀冬,曹家桢
申请号:
CN201820158376.9
公开号:
CN208769785U
申请日:
2018.30.01
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
本申请实施例提供一种压疮测量尺,包括:用于测量长度的主刻度尺、用于测量宽度的副刻度尺和用于测量深度的纵刻度尺;所述主刻度尺和所述副刻度尺的一端均设置有连接环板,所述连接环板上开有贯通的孔,所述主刻度尺和所述副刻度尺通过设置在所述孔内的固定套转动连接,并可以分别绕所述固定套转动;所述固定套为中空的管状结构,所述纵刻度尺贯穿所述固定套,所述纵刻度尺的一端与所述固定套卡接,并可以相对所述固定套滑动。采用本实用新型提供的压疮测量尺可同时测量压疮面的宽度、高度和深度数值,以及测量压疮的潜行和角度,操作简易、高效、误差低。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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