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干渉測定法による試料測定
专利权人:
カール ツァイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト
发明人:
フェルヒャー、アドルフ フリードリヒ,ライトゲブ、ライネル
申请号:
JP2008543729
公开号:
JP5149196B2
申请日:
2006.12.06
申请国别(地区):
JP
年份:
2013
代理人:
摘要:
The present invention relates to a device for interferometric measurement of the eye, particularly the sample, the apparatus passes through the measurement beam path of the first measuring beam incident on the sample passes, the reference beam is applied to the measurement beam for the interference and an interferometer system and a reference beam path of the first to be. With the reference beam path and / or the second measurement beam path of the second, by these paths, the optical wavelength of which differs from the one of the first beam path is an interferometer system. This wavelength difference is selected according to the distance measuring two regions are spaced apart in the depth direction of the sample.本発明は、試料特に眼の干渉測定のための装置に関し、その装置は試料に入射する測定ビームが通過する第1の測定ビーム経路と、干渉のために測定ビームに適用される参照ビームが通過する第1の参照ビーム経路とを含む干渉計装置を備える。干渉計装置は第2の測定ビーム経路および/または第2の参照ビーム経路を備え、これら経路によって、それらの光波長は第1のビーム経路の1つとは異なる。この波長差は、試料の深さ方向に離間して配置される2つの測定領域の距離に従って選択される。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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