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用于正电子发射成像设备的检测器及正电子发射成像设备
专利权人:
武汉中派科技有限责任公司
发明人:
谢思维,黄秋,龚政,赵指向,翁凤花,彭旗宇
申请号:
CN201610910524.3
公开号:
CN106562799A
申请日:
2016.10.19
申请国别(地区):
CN
年份:
2017
代理人:
摘要:
本发明提供一种用于正电子发射成像设备的检测器及正电子发射成像设备。检测器包括:闪烁晶体,其中,闪烁晶体是一体化的闪烁晶体,并且闪烁晶体具有通孔,通孔用于容纳待成像对象;以及至少一个光电传感器阵列,与闪烁晶体耦合,用于检测伽玛光子与闪烁晶体发生反应所产生的可见光子,其中,伽玛光子通过在待成像对象体内发生的正电子湮灭效应产生。根据本发明实施例的检测器使得采用该检测器的正电子发射成像设备的伽玛光子定位精度高、灵敏度高、边缘效应弱、机械设计难度低。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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