The present invention provides a measuring apparatus comprising: a light source unit and a sensor unit configured to sense a plurality of properties to be measured with respect to an object by using light emitted from the light source unit, wherein the sensor unit comprises: a first region configured to sense a first property to be measured among the plurality of properties to be measured by sensing the light within a first wavelength range and a second region configured to sense a second property to be measured among the plurality of properties to be measured by sensing the light within a second wavelength range that is different from the first wavelength range.La présente invention concerne un appareil de mesure comprenant : une unité de source de lumière et une unité de capteur conçue pour détecter une pluralité de propriétés à mesurer par rapport à un objet en utilisant la lumière émise par lunité de source de lumière, lunité de capteur comprenant : une première région conçue pour détecter une première propriété à mesurer parmi la pluralité de propriétés à mesurer en détectant la lumière dans une première plage de longueurs donde et une seconde région conçue pour détecter une seconde propriété à mesurer parmi la pluralité de propriétés à mesurer en détectant la lumière dans une seconde plage de longueurs donde qui est différente de la première plage de longueurs donde.본 발명은, 광원부, 및 상기 광원부에서 발광된 광을 이용하여 대상체에 대하여 복수의 측정대상들을 센싱하도록 형성되는 센서부를 포함하고, 상기 센서부는, 상기 광을 제1파장 범위에서 센싱하여, 상기 복수의 측정대상들 중 제1측정대상을 센싱하도록 이루어지는 제1영역, 및 상기 광을 상기 제1파장 범위와 다른 제2파장 범위에서 센싱하여, 상기 복수의 측정대상들 중 제2측정대상을 센싱하도록 이루어지는 제2영역을 포함하는 측정장치를 제공한다.
