베르만, 데이비드 버딕,스라멕, 크리스토퍼 케이.,라피-타리, 헤디에,지반, 프라산스,로버트, 니콜라스 이.
申请号：
KR1020207002282
公开号：
KR1020200023641A
申请日:
2018.06.25
申请国别(地区):
KR
年份:
2020
代理人:
摘要：
A system and method for detecting electromagnetic distortion are disclosed. In one aspect, the system includes an EM sensor configured to generate an EM sensor signal in response to detection of an electromagnetic (EM) field. The system may also include a processor configured to calculate a baseline value of the metric indicative of the position of the EM sensor at the first time and to calculate an updated value of the metric for a time period after the first time. The processor may also be configured to determine that the difference between the updated value and the baseline value is greater than the threshold and that the EM field is distorted in response to the difference being greater than the threshold.전자기 왜곡 검출을 위한 시스템 및 방법이 개시된다. 하나의 양태에서, 시스템은 전자기(EM) 필드의 검출에 응답하여 EM 센서 신호를 생성하도록 구성되는 EM 센서를 포함한다. 시스템은 또한, 제1 시간에서의 EM 센서의 위치를 나타내는 메트릭의 베이스라인 값을 계산하도록 그리고 제1 시간 이후의 시간 기간 동안 메트릭의 업데이트된 값을 계산하도록 구성되는 프로세서를 포함할 수도 있다. 프로세서는 또한, 업데이트된 값과 베이스라인 값 사이의 차이가 임계 값보다 더 크다는 것을 결정하도록 그리고 그 차이가 임계 값보다 더 큰 것에 응답하여 EM 필드가 왜곡되었다는 것을 결정하도록 구성될 수도 있다.
