磁共振系统及其射频线圈性能检测方法
- 专利权人:
- 上海联影医疗科技有限公司
- 发明人:
- 包长虹
- 申请号：
- CN201210241459.1
- 公开号：
- CN103536288A
- 申请日:
- 2012.07.12
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种磁共振系统及其射频线圈性能检测方法，所述磁共振系统包括至少一接收链路，所述每一接收链路串联有线圈和低噪声放大器，其中所述线圈和低噪声放大器之间串联有双向定向耦合器，所述双向定向耦合器通过切换开关接入测试信号。本发明提供的磁共振系统及其射频线圈性能检测方法，通过设置双向定向耦合器和切换开关测量线圈的散射参数，计算出线圈的谐振频率和品质因素Q值，从而快速方便的判断线圈故障，不需要进行摆放水模等成像操作，简单易行，结果可靠。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
