利用扰动引起低模式耦合测量光纤中低PMD的系统和方法
- 专利权人:
- 菲特尔美国公司
- 发明人:
- 阿比吉特·森古皮塔,阿伦·H·麦柯迪
- 申请号：
- CN03152335.8
- 公开号：
- CN100468035C
- 申请日:
- 2003.07.29
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2009
- 代理人:
- 李德山
- 摘要：
- 公开了用于测量单模光纤偏振模色散(PMD)的系统和方法。该方法能在低模式耦合状态下更快速和更简单地测量内在超低PMD光纤。该方法包括将多个局部外部扰动引入该光纤上，在此之后使该光纤达到一种稳定状态，然后使用标准测量技术测量微分群延迟。改变多个局部外部扰动，然后对微分群延迟进行另一次测量。在获得足够数量测量结果之后，提供麦克斯韦分布，可以计算该分布的平均值作为偏振模色散值。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
