用基于纳米结构的光谱检测方法检测化学物和生化物杂质
- 专利权人:
- 欧普图斯（苏州）光学纳米科技有限公司
- 发明人:
- 汪泓,郭浔,刘春伟
- 申请号：
- CN201310149334.0
- 公开号：
- CN103278491A
- 申请日:
- 2010.04.23
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 余长江
- 摘要：
- 本发明用基于纳米结构的光谱检测方法检测化学物和生化物杂质，特别是公开了一种为工业生产过程提供质量保证的方法。该方法包括从工业生产过程中获得一制造材料，让该制造材料与纳米表面接触，使得有害物质吸附到该纳米表面上。该方法还包括利用一光谱仪从该制造材料和该纳米表面获得一拉曼光谱，利用一光谱分析系统查找有害物质在拉曼光谱中预定光谱范围内的光谱信号，如果在拉曼光谱中存在该光谱信号，则检测该制造材料中有害物质的浓度，如果该浓度超出一预定的允许限度，那么将该制造材料从该工业生产过程中排除。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
