一种用于定征微观随机结构数量密度的光声Nakagami统计分析方法
- 专利权人:
- 南京大学
- 发明人:
- 陶超,郜晓翔,戴娜,刘晓峻
- 申请号：
- CN201910297492.8
- 公开号：
- CN109938701B
- 申请日:
- 2019.15.04
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种用于定征微观随机结构数量密度的光声Nakagami统计分析方法,使用Nakagami分析逼近光声信号幅值包络的概率密度函数,获得最优化的模型参数,该技术可以定征微观随机结构的数量密度。光声光谱分析方法可以定量表征深部组织中亚波长级微观结构的尺寸信息,但仅有尺寸属性不能准确、完整地表示微观结构属性。本发明结合功率谱分析方法和光声信号包络Nakagami统计方法,通过集成它们可以实现更全面的微观结构表征,包括特征尺寸和数量密度。由于许多疾病与微观结构变化密切相关,这项工作有助于这些疾病的诊断和分期,且具有较高的易用性和安全性。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
