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一种提高时间采样精度的方法及装置
专利权人:
沈阳东软医疗系统有限公司
发明人:
宁鹏,杨龙,赵玉秋,梁国栋,吴风
申请号:
CN201810290642.8
公开号:
CN108564634A
申请日:
2018.04.03
申请国别(地区):
CN
年份:
2018
代理人:
摘要:
本发明公开一种提高时间采样精度的方法及装置,其中,方法应用于采集所述光子到达时间的现场可编程门阵列FPGA,FPGA包括多个逻辑阵列单元LAB,每个LAB包括多个级联在一起的进位链;方法包括:在单事件对应的触发信号到达时,将触发信号同时进入搭建的进位链的不同位置,所述不同位置涵盖LAB的跨区位置以及搭建的进位链的起始位置;将触发信号在LAB的跨区位置对应的标定时间减去跨区位置的前一级进位链的时间作为触发信号在跨区位置的实际标定时间TA;获得触发信号在起始位置对应的标定时间TB;获得TA和TB的平均值作为校准后的标定时间,提高单事件发生时间的采样精度,使得符合事件判定结果的准确性更高,进而提高图像的重建质量。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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