一种低场磁共振温度成像相位漂移的校正方法
- 专利权人:
- 中国科学技术大学
- 发明人:
- 陈玉萍,邱本胜,杨巾英
- 申请号：
- CN201710533615.4
- 公开号：
- CN107468251A
- 申请日:
- 2017.07.03
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种低场磁共振温度成像相位漂移的校正方法,应用于监测加热区域的面积和准确的温度变化值,该方法包括:在微波消融仪对目标区域进行消融前,使用GRE序列或SPGR序列采集一幅磁共振图像,作为参考图像;在MW消融时或消融后采集另一幅磁共振图像,作为加热图像;在加热图像中选取模拟的加热区域和未加热区域;根据所述未加热区域的相位漂移使用加权最小二乘法的一阶多项式模型拟合出加热区域内非温度变化引起的相位变化;根据所述相位差值计算出温度差值;根据所述相位差图和温度差图得到加热区域的面积。本发明能够显著提高低场磁共振温度成像的温度精度,减小温度误差。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
